Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда: Лабораторная работа
Исаенкова М.Г., Крымская О.А., Перлович Ю.А.
Учебное пособие «Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда» по дисциплинам «Структура и свойства наноматериалов и сложных соединений», «Современные представления о структуре материалов», «Физические основы дифракционных методов и структура материалов» знакомит студентов с методом восстановления структуры исследуемого вещества, широко используемым мировым научным сообществом при расшифровке дифракционных спектров порошковых материалов, и способами описания структурного состояния поликристаллического материала, определяемого профилем рентгеновской линии. В ходе выполнения работы и подготовки к защите полученных результатов студенты знакомятся с основными понятиями, физическими принципами методов рентгеноструктурного анализа, этапами определения характеристик структуры поликристаллических материалов; выполняют необходимые экспериментальные процедуры на рентгеновском дифрактометре, определяют характеристики рентгеновских линий, рассчитывают параметры элементарных ячеек, размеры блоков когерентного рассеяния и величину упругих микродеформаций для различных материалов . Учебное пособие содержит практические указания по выполнению лабораторной работы и контрольные вопросы для ее сдачи. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по направлениям «Технологии разделения изотопов и ядерное топливо», «Материаловедение и технологии материалов» и «Ядерные физика и технологии».
年:
2019
出版社:
ЭБС Лань
语言:
russian
ISBN 10:
5726223764
ISBN 13:
9785726223766
文件:
PDF, 1.33 MB
IPFS:
,
russian, 2019