募捐 9月15日2024 – 10月1日2024 关于筹款

Silizium-Halbleitertechnologie: Grundlagen...

Silizium-Halbleitertechnologie: Grundlagen mikroelektronischer Integrationstechnik

Ulrich Hilleringmann (auth.)
你有多喜欢这本书?
下载文件的质量如何?
下载该书,以评价其质量
下载文件的质量如何?

Grundlage der mikroelektronischen Integrationstechnik ist die Silizium-Halbleitertechnologie. Sie setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen 10 nm gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht des Anwenders erläutert. Das Lehrbuch behandelt neben den Grundlagen auch die technische Durchführung der Einzelprozesse zur Integrationstechnik.

种类:
年:
2014
出版:
6
出版社:
Springer Vieweg
语言:
german
页:
263
ISBN 10:
3834820857
ISBN 13:
9783834820853
文件:
PDF, 13.88 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
german, 2014
线上阅读
正在转换
转换为 失败

关键词